序号 |
物相成分类分析测试设备 |
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38 |
X射线光电子能谱 |
设备地点 |
负责人 |
联系电话 |
测试楼107 |
韩刚 |
62333794 |
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研究内容 |
材料表面界面分析；元素化学价态分析；元素含量分析；元素和元素价态随深度变化的信息；同位素测定。 |
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设备参数 |
使用微聚焦Al Ka线(1486.6eV)单色化X射线源，束斑尺寸900~20mm可调，调节步长小于10mm； |
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39 |
日本理学Ultima-IV衍射仪 |
设备地点 |
负责人 |
联系电话 |
测试楼103 |
姜伟 |
62333794 |
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研究内容 |
粉末样品的物相定性与定量分析；计算结晶化度、晶粒大小；确定晶系、晶粒大小与畸变；Rietveld结构分析 |
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设备参数 |
X射线发生器：封闭管（3KW） Cu靶 扫描方式：θ/θ设计 探测器：高速探测器D/teX-Ultra 测角仪半径：185mm测角仪半径，水平测角仪 测角仪最小步进为1/10000度 |
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40 |
Smartlab9 |
设备地点 |
负责人 |
联系电话 |
X射线衍射仪 |
测试楼103 |
李红 |
62333794 |
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研究内容 |
粉末样品的物相定性与定量分析；计算结晶化度、晶粒大小；确定晶系、晶粒大小与畸变；Rietveld定量分析 |
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设备参数 |
X射线发生器：功率为9KW转靶 Cu靶 测角仪半径：300mm，水平测角仪 高反射效率的石墨单色器 自动识别所有光学组件、样品台（理学专利） CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利） 扫描方式：θ/θ设计 探测器： 高速探测器D/teX-Ultra |
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41 |
气相色谱仪 |
设备地点 |
负责人 |
联系电话 |
测试楼221 |
林玮 |
62332051 |
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研究内容 |
利用色谱分离技术和检测技术，对多组分的复杂混合物进行定性和定量分析的仪器。通常可用于分析土壤中热稳定且沸点不超过500℃的有机物。 |
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设备参数 |
色谱性能：保留时间重现性: < 0.0008min; 峰面积重现性: < 1%RSD； EPC操作模式：恒温，恒压，程序升压，程序升流； 柱温箱操作温度：室温以上4℃~450℃； 氢火焰离子化检测器(FID)和热导检测器(TCD) |
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42 |
质谱仪 |
设备地点 |
负责人 |
联系电话 |
测试楼221 |
林玮 |
62332051 |
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研究内容 |
质谱分析是一种测量离子质荷比（质量-电荷比）的分析方法。 |
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设备参数 |
质量数范围：0.4~ 300 amu 检测限：5ppb 三级过滤四极杆 |
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