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光学性能

序号

光学性能类分析测试设备

43

光学轮廓仪

设备地点

负责人

联系电话

测试楼114

杜泽汀

62333794



研究内容

采用非接触式白光扫描干涉原理,进行精密、快速、3D表面测量。可用于微小元件表面形貌、表面粗糙度、和台阶高度,即适合于纳米及微米级样品的测试研究。

设备参数

采用非接触、三维、白光扫描干涉仪进行闭环扫描,
Z方向测试范围 0 .01nm 到10mm, Z方向分辨率0.01nm,RMS重现性 ≤0.01nm 台阶测量精度:≤0.75%;
扫描速度:≥45m/sec,横向分辨率:0.38~9.5mm,
样品反射率适用范围:0.05% - 100%,
最大适用样品高度:100mm。

44

稳态瞬态荧光光谱仪

设备地点

负责人

联系电话

测试楼224

王先珍

62333794



研究内容

分析液体,固体,粉末等样品的稳态荧光光谱、瞬态光谱、低温光谱,绝对量子效率等

设备参数

型号:FLS1000

主要技术指标:1. 稳态测试部分:信噪比≥30000 : 1;光谱分辨率:≤0.05 nm;波长准确度:≤±0.2 nm;最小步进: ≤0.01 nm;滤除倍频峰,得到完整信息三维光谱图。2. 瞬态测试部分:荧光测量寿命范围: 25 ps~50s;磷光寿命测量寿命范围:10s~10 s;最小时间分辨率≤10 ns。

45

傅里叶变换

设备地点

负责人

联系电话

红外光谱仪

测试楼221

林玮

62332051



研究内容

可以测量各种气体、固体、液体样品的吸收、反射光谱等,而且可用于短时间化学反应测量。

设备参数

光谱范围: 4000~350cm-1。

扫描速度:16cm-1

光谱分辨率下不少于80张谱图/秒,15档可调。

红外光源:高效率红外光源。

46

紫外可见分光

设备地点

负责人

联系电话

光度计

测试楼222

黄瑛

62333794



研究内容

可根据吸收光谱上的某些特征波长处的吸光度的高低判别或测定该物质的含量

主要功能:吸收、透射、反射、漫反射、漫透射测量

设备参数

190-900nm

47

荧光光谱仪

设备地点

负责人

联系电话

测试楼222

黄瑛

62333794



研究内容

光源入射光经过激发单色仪后被衍射分成某一特定波长的单色光;该单色光进入样品仓激发样品到激发态,然后样品从激发态回到基态发射出一定波长的荧光,该荧光经过发射单色仪分光后进入检测器被检测分析,从而获得样品的光谱信息。

设备参数

200~900nm

48

原位电化学红外光谱仪

设备地点

负责人

联系电话

测试楼221

林玮

62332051



研究内容

‌主要用于研究电化学反应过程中的分子水平信息,通过结合电化学调制和红外光谱技术,实现对电化学反应过程中反应物种的成键方式和浓度变化的特异性识别。这种方法能够获取电极表界面的物理结构和化学变化特征,以及对参与电化学反应的各种物质的实时、定性和定量检测‌

设备参数

设备型号:德国布鲁克INVENIO S
光谱范围: 8000 ~ 340cm-1
分辨率: 优于0.4 cm-1,最小步进0.1cm-1
波数精度 :优于0.0005 cm-1@1554cm-1(十次重复测量)
波数准确度 :优于0.01 cm-1 @1554cm-1(十次重复测量)
信噪比:高于60000:1 (峰-峰值,1分钟测量,分辨率:4cm-1)
干涉仪:平面镜或立体角镜干涉仪
红外光源:预准直、高能量的中/远红外光源
检测器:中红外DLATGS检测器和数字化的MCT低温检测器
可测样品类型:块体、薄膜、粉末、液体等;